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使用涂層測厚儀時應當遵守的規(guī)定

日期:2025-09-22 04:08
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摘要:
      1、基體金屬特性
  對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
  
  對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。
  
  2、基體金屬厚度
  檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。
  
  3、邊緣效應
  不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
  
  4、曲率
  不應在試件的彎曲表面上測量。
  
  5、表面清潔度
  測量前,應**表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質
  
  磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。
  
  6、讀數(shù)次數(shù)
  通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。

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